溫度沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的必不可少的一項測試箱，兩箱式箱體分為高溫箱和低溫箱;三箱式箱體分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采獨特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物完全靜止。
 

 

　　溫度沖擊試驗箱的實驗流程分成五部走：預(yù)備處理、原始檢驗、實驗、修復(fù)、后檢驗。在其中實驗的步驟以下：

 

　　1)實驗試品應(yīng)按規(guī)范規(guī)定置放在試驗箱內(nèi)，并將試驗箱內(nèi)溫度升到特定點，維持一定的時間至實驗試品做到溫度平穩(wěn)，以時間長都為標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　2)高溫環(huán)節(jié)完畢后，在5min內(nèi)將實驗試品變換到已調(diào)整到-55℃的低溫實驗內(nèi)，維持1h或是直到實驗試品做到溫度平穩(wěn)，以時間長都為標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　3)低溫環(huán)節(jié)完畢后，在5min內(nèi)將實驗試品變換到，已調(diào)整到70℃的高溫試驗箱內(nèi)，維持1h或是直到實驗試品做到溫度平穩(wěn)，以時間長都為標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　4)反復(fù)所述實驗方法,以進行三個循環(huán)系統(tǒng)周期時間。依據(jù)首樣尺寸與室內(nèi)空間尺寸，時間將會會略微偏差。

 

　　我們需要提醒您在使用時要注意：高溫燙傷，溫度沖擊試驗箱在做高溫試驗時箱內(nèi)溫度很高。試驗過程中或測試剛結(jié)束時，如需打開箱，開門要特別小心，切記，順著門開啟的方向行走，以免燙傷;低溫凍傷，在做低溫試驗時箱內(nèi)溫度很低。試驗過程中或試驗剛結(jié)束時，如需打開箱門要特別小心，以免凍傷。