什么原因?qū)е吕錈釠_擊試驗箱失效
作者:冷熱沖擊試驗箱 ????時間:2020-05-20 10:00
環(huán)境試驗大致可分為“氣候環(huán)境試驗”、“機械環(huán)境試驗”和“綜合環(huán)境試驗”。與氣候有關(guān)的環(huán)境試驗包括溫度、濕度、鹽霧及壓力等環(huán)境應(yīng)力試驗,而機械環(huán)境試驗則包括沖擊和振動等環(huán)境應(yīng)力試驗。這里僅介紹與氣候有關(guān)的
冷熱沖擊試驗箱對產(chǎn)品的影響。
冷熱沖擊試驗箱主要是對于于電焊工、電子設(shè)備,及其其原元器件,以及它原材料在溫度大幅度轉(zhuǎn)變的自然環(huán)境下存儲、運送、應(yīng)用時的適應(yīng)能力實驗。該實驗設(shè)備關(guān)鍵用以對商品按照國家軍工用規(guī)范規(guī)定或客戶自定規(guī)定,在高溫與低溫一瞬間轉(zhuǎn)變標(biāo)準(zhǔn)下,對商品的物理學(xué)及其別的有關(guān)特點開展環(huán)境模擬檢測,檢測后,根據(jù)檢驗,來分辨設(shè)備的特性,是不是依然可以合乎預(yù)訂規(guī)定,便于供設(shè)計產(chǎn)品、改善、評定及原廠檢測用。
溫度冷熱沖擊而引起的失效現(xiàn)象
為了保證電子產(chǎn)品具有更高的可靠性水平,隨著產(chǎn)品耐濕性能的提高,除了相對固定式的溫度濕度試驗外,對溫度冷熱沖擊試驗的要求也越來越多,具體表現(xiàn)在:
1、以便降低成本費,選用新型材料,新技術(shù)新工藝;
2、整個設(shè)備的微型化促使電子器件更為特別容易遇熱;
3、生產(chǎn)過程中電子器件將會遭受,比較嚴(yán)重的焊接應(yīng)力影響,比如:當(dāng)選用焊錫絲電焊焊接時;
4、因為商品精密度的規(guī)定,電子器件持續(xù)地遭受更大的焊接應(yīng)力影響;
5、伴隨著攜帶式電子設(shè)備的普及化,商品應(yīng)用自然環(huán)境越來越更為繁雜、嚴(yán)苛;
6、可信性規(guī)定及水準(zhǔn)愈來愈高。
冷熱溫度沖擊不同于普通濕熱環(huán)境,它是通過冷熱溫度沖擊來發(fā)現(xiàn)常溫狀態(tài)下,難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障問題。決定冷熱溫度沖擊試驗的只要因素有:試驗溫度范圍、暴露時間、循環(huán)次數(shù)、試驗樣品重量及熱負(fù)荷等。